製品紹介

タップ検査装置

タップ検査装置

・新機構「正・逆転クラッチ」と「スリップ機構(PAT.P)」を内蔵
・ネジ径M1.6〜M6の止まりタップ穴の検査に最適
・ネジ検査工程の時間短縮・省力化・品質向上に貢献します
・シンプル設計の為、軽量コンパクトです
・コンピューター・電子部品・自動車部品関連の納入実績が  豊富にあります


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